Технологии

Запатентован способ диагностики нановключений в нанокомпозитах

14 апреля 612 просмотров 1 минута на чтение
Размер шрифта: А А А

Ученые из ПГУ и "ЛЭТИ" разработали новый метод обнаружения нановключений в тонкопленочных нанокомпозитах. Это открытие обещает революцию в сфере материалов и будет полезно для микро — и наноэлектроники, как сообщается в пресс-релизе ПГУ, опубликованном ТАСС.
Один из исследователей, доцент кафедры "Нано — и микроэлектроника" ПГУ, Андрей Карманов, подчеркнул, что предложенный метод позволит создавать и анализировать новые материалы, включая наноструктурированные, и настраивать их для конкретных целей. Этот подход будет полезен при разработке передовых устройств с улучшенными характеристиками, такими как высокочувствительные газовые сенсоры, миниатюрные энергоэффективные датчики вакуума и суперконденсаторы.
Карманов отметил, что диагностика является важным этапом в создании материалов с нановключениями, так как позволяет предсказать их поведение под воздействием внешних факторов. Существующие методы нанодиагностики не всегда способны обнаружить нановключения и требуют значительных затрат. Новое решение предлагает более доступный и эффективный подход, позволяя более детально изучать эволюцию нановключений в материалах.

Запатентован способ диагностики нановключений в нанокомпозитах
Читать полностью на сайте www.pravda.ru